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| 品牌 | 其他品牌 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 組件類別 | 其他 | 應用領域 | 醫療衛生,環保,化工,電子/電池,綜合 |
硅光子和PIC測試
硅光子和光子集成最/全面、最快速的測試方案
LUNA提供基于光頻域反射技術（OFDR）的獨/特測試系統，和為現代硅光子 集成器件提供準確和快速的測試方案。
10μm空間分辨率的器件光路損耗測試
Luna的超高空間分辨率背光反射計，具備背向散射級的探測靈敏度，為光無源 器件提供前/所未有的分布式損耗分析。
一臺設備即可測試器件的全部光學參數
Luna光矢量分析儀（OVA）能夠通過對光無源器件的一次掃描測量，即可完成 對線性傳輸矩陣 (瓊斯矩陣)、插入損耗 (IL)、群延時 (GD)、色散 (CD)、偏振模 色散 (PMD)、偏振相關損耗 (PDL) 等關鍵光學參數的測量。
全新6415光器件分析儀
Luna全新的6415是一款同時具備高測量頻率和高空間分辨率的背光反射計產 品，同時可提供插入損耗（IL）的透射測試和分析模式，是產線檢測和品質控 制的理想選擇。
應用
?生產測試
?質量控制
?生產問題診斷
?設計表征與分析
?驗證模型并改進仿真
?無源光器件和模塊：濾波器、PLC、AWG、MUX/DEMUX、 分光器、光柵、WSS、ROADMs等
示例：平面光波導的表征
平面光波導作為硅光子平臺的關 鍵組成部分，對測量方法提出了 更高的挑戰，包括在單位長度內 存在更大的損耗、更高的偏振相 關性等等。
Luna的掃描激光干涉技術，能夠通過對器件的掃描，獲得沿器件光路的 亞毫米級空間分辨率的損耗測量結果，同時也可獲得更全面的其他光學參 數指標。比如對波導光柵的測量，我們能夠同時獲得波導光柵在時域上的 端面及尺度特性，以及在頻域上的頻譜響應特性。
使用Luna的分析軟件，您可以區分并挑選合適的光柵反射區域，從而可 以輕松觀察到TM模和TE模在頻譜響應中表現出的不同偏振效應。否則， 整體頻譜響應（如下圖中紅色曲線所示）將被很強的端面反射造成的頻譜 響應所充滿。
時域響應結果顯示，強烈的端面反射和波導光柵反射能夠被清晰 的區分和呈現。
通過時域響應能夠很容易地確定光柵反射峰值，從而可僅對光柵部 分進行頻譜分析（藍色曲線）。波導的整體頻譜響應如紅色曲線所示。
*的硅光子和 PIC 測試解決方案
Luna*的光學測量系列產品，基于光頻域反射技術（OFDR），具有業界領/先的測試動態范圍、時域和頻譜測試分辨率以及 測試速度。
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光矢量分析儀 OVA 5000 • 全面的波導器件表征 • 全面的偏振分析，無需偏振控制器或 準直保偏光纖 • 單次快速掃描，即可獲得 IL、RL、PDL、CD、PMD、TE/TM狀 態等參數的測試結果 | 背光反射計 OBR 4600 • 卓/越的硅光子、PIC和光學器件的光路 分布式損耗測試能力 • 10μm長度分辨率; -140dB探測靈敏度 • 易于測量和分析波導散射和損耗特性 • 亞皮秒分辨率的長度偏差測量 | 光器件分析儀 Luna 6415 •用于產線測試和質量控制的高速分析儀 •單臺儀器具有反射和透射兩種測量模式 • 高空間分辨率的沿光路長度上的回損 分布測試 • 透射和反射光路的頻譜響應分析 |
硅光子和PIC測試
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